Microstructural characterization of materials / David Brandon; Wayne D. Kaplan.

Por:

Brandon, David

Colaborador(es):

Kaplan, Wayne D

Tipo de material: Texto

TextoDetalles de publicación: West Sussex : John Wiley and Sons, 2008.Edición: 2nd edDescripción: xiv; 536 p. : figurasISBN:

9780470027851

Tema(s):

Alcance y contenido: The concept of microstructure - Diffraction analysis of crystal structure - Optical microscopy - Transmission electron microscopy - Scanning electron microscopy - Microanalysis in electron microscopy - Scanning probe microscopy and related techniques - Chemical analysis of surface composition - Quantitative and tomographic analysis of microstructure - Appendices.

Tipo de ítem:

Libro

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The concept of microstructure - Diffraction analysis of crystal structure - Optical microscopy - Transmission electron microscopy - Scanning electron microscopy - Microanalysis in electron microscopy - Scanning probe microscopy and related techniques - Chemical analysis of surface composition - Quantitative and tomographic analysis of microstructure - Appendices.

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